一 接触测量时接触定位方式的选择

  仪器校准中,用接触法测量时,不同的被测量对象应选用不同的测头或测帽。为减少接触方式不正确带来的测量不确定度,在选择测量头时,应尽可能使测量头与被测件成点或线接触。因此,平面形工件采用球面测头,圆柱形工件采用刀口或圆柱测头,球面形工件采用平面测头。因为测量力和接触的形式不同,对接触变形的影响也不同,所以在高精度测量时,必须准确选择测量力和测头工作面半径,并在测量结果中进行接触变形误差修正。

二 温度对测量结果的影响

  计量检测的时候温度变化也是产生变形的主要因素。量具、仪器和工件在测量前必须有一段时间在规定的温度范围内等温。测量过程中环境温度波动要小,必须恒定在规定的范围内;尽可能不直接用手接触量具、仪器和工作。在高精度测量时,还需将人与仪器隔离。如接触式干涉仪使用时,需用隔离屏将人的呼吸与仪器隔离,操作时带手套,测量时用导热系数低的木夹子夹带工作。对于高等级的量块、线纹尺除有很高的环境要求外还要对其温度进行测量并加以修正。

三 正确选择测量基面

  计量校准的过程中,要正确选择被测件的一个合适的几何要素(点、线或面)作为测量基准。基面选择时必须遵守基准统一原则。但有时加工过程中由于种种原因使得工艺基准不能和设计基准重合,而测量时难以选择设计基准为测量基准。

本文由仪器校准机构中心推出。

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